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IVAC系列科研級(jí)CCD相機(jī)更寬的單次攝譜范圍（30mm 寬像面尺寸），IVAC系列科研級(jí)CCD相機(jī)低暗電流深耗盡的暗電流，比背感光深耗盡低10倍，單片窗口設(shè)計(jì)，提升透光度；USB 2.0接口

科研級(jí)相機(jī)采用高品質(zhì)二代或三代像增 強(qiáng)器，是目前高.端科研市場(chǎng)上應(yīng)用廣泛的帶 有時(shí)間閘門的增強(qiáng)型CCD。短曝光時(shí)間 可達(dá)1.2ns，10ps的延遲分辨率，.低的傳 輸延遲19ns，該系列產(chǎn)品主要用于燃...

OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測(cè)量項(xiàng)目：? 絕.對(duì)反射率測(cè)量? 多層膜解析? 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

對(duì)小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測(cè)試的關(guān)鍵技術(shù)。

拉曼光譜用來(lái)測(cè)試材料應(yīng)力，摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉(zhuǎn)移，強(qiáng)度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結(jié)晶取向，組分，機(jī)械應(yīng)力，摻雜和溫度變化等。

原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測(cè)樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測(cè)試，具備優(yōu)異測(cè)試穩(wěn)定性和可靠性。

iSR是一種微光斑測(cè)試技術(shù)，用于實(shí)時(shí)刻蝕和Halftone工藝中的厚度測(cè)試

WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對(duì)超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。

WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測(cè)試。

WT-1200A 是單點(diǎn)式少子壽命測(cè)試系統(tǒng)，具備無(wú)接觸等優(yōu)點(diǎn)。

● 可測(cè)從0nm開始的低（殘留）相位差● 光軸檢出同時(shí)可高速測(cè)量相位差(Re.)（相當(dāng)于世界jie最zui快速的0.1秒以下來(lái)處理）● 無(wú)驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高● 設(shè)置的測(cè)量項(xiàng)目少，測(cè)量簡(jiǎn)單● 測(cè)量波長(zhǎng)...

●與產(chǎn)線的控制信號(hào)同步●通過(guò)光纖的自由的測(cè)試系統(tǒng)●實(shí)現(xiàn)最短2ms～的光譜測(cè)量（LE-5400）●同以往的產(chǎn)品相比，測(cè)量演算評(píng)價(jià)1個(gè)周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型