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  • 深能級瞬態(tài)譜測試儀

    深能級瞬態(tài)譜儀(DLTS)是檢測半導體材料和器件缺陷和雜質的最好技術手段，它可以測定各種深能級相關參數(shù)，如深能級，俘獲界面，濃度分布等。

    更新日期：2024-09-02
    型號：
    廠商性質：生產廠家
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